供應(yīng)SYMFJ*30實驗?zāi)シ蹤C 偏心套軋距調(diào)節(jié)機構(gòu)，各對磨輥間隙均可調(diào)整，延長磨輥使用周期，確保研磨效果長期穩(wěn)定*；磨輥端面為透明蓋板，磨粉作業(yè)過程中，磨輥和麥渣均清晰可見；

JMFD70×30型實驗?zāi)シ蹤C/研磨機： JMFD70×30型實驗?zāi)シ蹤C獨有偏心套軋距調(diào)節(jié)機構(gòu)和透明磨輥端面蓋板、透明圓篩罩，是一種可調(diào)軋距、研磨和篩理過程全程可見的精密實驗?zāi)シ蹤C，磨粉過程與大型工業(yè)制粉過程類似，水分 損失少，一般僅為0.2%-0.4%，廣泛用于實驗室對小麥樣品進行實驗制粉，進行面團流變學(xué)特性、面制品制作實驗等分析，從而評價小麥粉品質(zhì)。